반도체 실험실 분석 토탈 솔루션
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반도체 분석작업에서
반도체 분석작업에서 다양한 종류의 구성성분함량을 어떻게 보다 빠르고 정확하게 측정할수 있을까요? 반도체 제조의 전반과정에서 극미량 금속불순물의 최저 검출한계를 쉽게 만족하는 고감도 고성능 장비는 무엇일까요? 마이크로칩 및 기타 반도체 작업환경중 유해화학물질의 방출을 분석제어할수 있는 방법은 무엇일까요? 손쉬운 데이터 분석과 편리한 유지보수로 생산효율성을 기존보다 더 높일수는 없을까요? 고객께서 고민하시고 계시는 모든 문제들을 퍼킨엘머에서도 항상 함께 고민하고 있습니다. 퍼킨엘머에서는ICP-MS, ICP-OES, 열분석기기, FT-IR, GCMS,LCMSMS 등 폭넓은 장비들을 제공함으로써 반도체공정 각 단계에서 필요한 다양한 종류의 시료분석을 도와드리고 있습니다. |
| 불순물 제어 | |||||||||
| 반도체 제조 과정중 극미량 금속불순물에 대한 검출 솔루션 | |||||||||
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| 제품 품질 관리 | |||||
| 다양한 반도체 제품재료의 구성성분 측정을 통한 품질 보장 | |||||
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