반도체 실험실 분석 토탈 솔루션

PerkinElmer土壤污染检测实验室整体解决方案

반도체 분석작업에서 반도체 분석작업에서 다양한 종류의 구성성분함량을 어떻게 보다 빠르고 정확하게 측정할수 있을까요?
반도체 제조의 전반과정에서 극미량 금속불순물의 최저 검출한계를 쉽게 만족하는 고감도 고성능 장비는 무엇일까요?
마이크로칩 및 기타 반도체 작업환경중 유해화학물질의 방출을 분석제어할수 있는 방법은 무엇일까요?
손쉬운 데이터 분석과 편리한 유지보수로 생산효율성을 기존보다 더 높일수는 없을까요?

고객께서 고민하시고 계시는 모든 문제들을 퍼킨엘머에서도 항상 함께 고민하고 있습니다.
퍼킨엘머에서는ICP-MS, ICP-OES, 열분석기기, FT-IR, GCMS,LCMSMS 등 폭넓은 장비들을 제공함으로써 반도체공정 각 단계에서 필요한 다양한 종류의 시료분석을 도와드리고 있습니다.
불순물 제어
반도체 제조 과정중 극미량 금속불순물에 대한 검출 솔루션


NexION 2000 ICP-MS
반도체분석의 수요를 위하여 디자인된 ICPMS NexION 2000S 모델은 탁월한 내구성, 효율적인 간섭제거를 통한 최상의 검출한계를 제공할 뿐 아니라, 높은 재현성, 안정성, 속도까지 제공하여 드립니다.


Avio 시리즈 ICP-OES
신개념의 RF Generator인 FPP (Flat Plate Plasma)의 탑재로 기존 모델에 비해 아르곤 가스의 소모량이 1/2로 줄게 되어 장시간 사용 시 많은 경제적 이익을 창출할 수 있는 다원소(파장) 동시분석형 ICP-OES 입니다.


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Spotlight 200i FT-IR Microscope
FT-IR AutoImage 전자동, FT-IR Microscope 기능은 물론 최신의 S/W 기술로 Chemical Imaging 작성이 가능한 최고 성능의 적외 현미경 분광기입니다.
제품 품질 관리
다양한 반도체 제품재료의 구성성분 측정을 통한 품질 보장


UV/Vis/NIR Spectrophotometer
고성능 자외선/가시광선/근적외선 분광기로 반도체 및 광학재료 영역까지 확대 분석할 수 있는 고감도, 고정밀 분광기입니다.


DSC 8000/8500
고감도 열유속(Heat Flux) DSC이며 Dual Furnace Power Compensation 초고감도 DSC로 온도 및 열량의 정확도, 재현성이 우수하며 급냉(Quenching)의 응용을 사용할 수 있는 유일한 DSC입니다.